差分正弦相位调制的复频域光学相干层析成像方法专利登记公告
专利名称：差分正弦相位调制的复频域光学相干层析成像方法
摘要：一种差分正弦相位调制的复频域光学相干层析成像方法，该方法是在正弦相位调制复频域光学相干层析成像方法的基础上，在横向扫描干涉信号中引入正弦相位调制，对采集的干涉谱信号沿波数进行逆傅里叶变换，将变换后得到的复层析信号的相位用相邻复层析信号的相位差代替组成新的差分复层析信号，对差分复层析信号的实部与虚部分别进行相位解调后相加即可得到去镜像的复层析信号，取出其幅度即为被测样品的全深度结构层析图。本发明消除了频域光学相干层析图像中的复共轭镜像、直流背景和自相关噪声，灵敏度不随横向扫描距离增加而降低，降低了样品内部高
专利类型：发明专利
专利号：CN201210116307.9
专利申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
专利发明（设计）人：南楠;步鹏;王向朝;黄炳杰
主权项：一种差分正弦相位调制的复频域光学相干层析成像方法，特征在于该方法是在正弦相位调制复频域光学相干层析成像方法的基础上，在横向扫描干涉信号中引入正弦相位调制，对采集的干涉谱信号沿波数进行逆傅里叶变换，将变换后得到的复层析信号的相位用相邻复层析信号的相位差代替，组成差分复层析信号，对差分复层析信号的实部与虚部分别进行相位解调后相加得到去镜像的复层析信号，取出其幅度，即为被测样品的全深度结构层析图。
专利地区：上海
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