一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法专利登记公告

专利名称：一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法

摘要：一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法，有七大步骤：一、读入高光谱数据，并设定掩模尺寸；二、计算图像信噪比，并自动选择参考波段图像；三、掩模的中心依次遍历参考波段图像中所有像元位置，计算该像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度；四、根据步骤三所得每个像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度，选择局部边缘密度最大的掩模图像作为参考模板；五、根据步骤四所得参考模板，计算目标波段图像与参考模板同位置图像的局部边缘密度；六、根据自适应阈值和步骤五所得图像的局部边缘密度，判断此图像是否为目标模板；七、利用模板之间

专利类型：发明专利

专利号：CN201210125039.7

专利申请（专利权）人：北京航空航天大学

专利发明（设计）人：赵慧洁;江澄;贾国瑞

主权项：一种高光谱图像Keystone效应自动检测方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：步骤一：读入高光谱数据，并设定掩模尺寸；步骤二：计算图像信噪比，并自动选择参考波段图像；步骤三：掩模的中心依次遍历参考波段图像中所有像元位置，计算该像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度；遍历时，保持中心点的横坐标与待检测像元位置一致；步骤四：根据步骤三所得每个像元位置上各个掩模图像的局部边缘密度，选择局部边缘密度最大的掩模图像作为参考模板；步骤五：根据步骤四所得参考模板，计算目标波段图像上与参考模板同位置图像的局部边缘密度；步

专利地区：北京