一种确定粗糙金属表面二次电子发射特性的方法专利登记公告

专利名称：一种确定粗糙金属表面二次电子发射特性的方法

摘要：本发明涉及一种确定粗糙金属表面二次电子发射特性的方法，该方法给出了判断电子是否入射到材料内部的方法，并利用该方法判断电子从材料内部出射后，是否再次入射，从而充分考虑了电子与粗糙金属表面的多次相互作用，并通过对大量电子的统计分析获得金属材料的二次电子发射特性，本发明由于充分考虑电子出射材料表面时与粗糙表面的多次相互作用，获得的二次电子发射特性与实验结果更加吻合，并且采用本发明方法可以对任意表面形貌的二次电子发射特性进行分析，可用于研究表面形貌与二次电子发射特性的规律，为探索可抑制二次电子发射的表面形貌提供理

专利类型：发明专利

专利号：CN201210130956.4

专利申请（专利权）人：西安空间无线电技术研究所

专利发明（设计）人：张娜;曹猛;张海波;崔万照

主权项：一种确定粗糙金属表面二次电子发射特性的方法，其特征在于包括如下步骤：(1)对材料的粗糙表面形貌进行表征，若材料表面形貌规则，将表面形貌划分为矩形网格，矩形网格内任意一点的起伏高度h采用解析式表示，并确定表面最大的起伏高度hmax；若材料表面为非规则表面形貌，采用显微镜进行表面形貌提取，采用矩形网格点的方法进行采样，并建立二维数值描述表面形貌，得到表面形貌的矩形网格点中任意一点的起伏高度h和表面所有起伏高度h的最大值hmax；(2)将电子从Ai?1点运动到Ai点的直线运动轨迹的长度记为ti，将电子从Ai点运

专利地区：陕西