用于光学纹理图像和SAR图像的自适应特征提取方法专利登记公告

专利名称：用于光学纹理图像和SAR图像的自适应特征提取方法

摘要：本发明涉及一种用于光学纹理图像和SAR图像的自适应特征提取方法，包括对训练集中多幅图像学习采样位置，进而不断学习出采样分布；对学习的采样分布利用自适应滤波对图像块进行采样编码，提取自适应特征；将该自适应特征与原始LBP特征串联组合，即为图像的自适应纹理特征描述。本发明融合了图像的分布特性、空间特性，利用了图像的先验知识学习，通过自适应采样的随机性，从而克服了普通LBP特征采样固定性的缺陷，提高光学纹理图像和SAR图像的分类正确率，进而提高基于纹理特征的分类、分割等图像处理应用的准确率。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210134551.8

专利申请（专利权）人：武汉大学

专利发明（设计）人：何楚;许连玉;廖紫纤;石博

主权项：一种用于光学纹理图像和SAR图像的自适应特征提取方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1，利用训练集中的部分训练图像学习采样分布，得到采样位置矩阵G；学习采样分布的实现包括以下步骤：a)设利用训练集中的M幅训练图像Tk学习采样分布，k的取值为1，2，...M，训练图像Tk的大小为N×N；对像素pr进行采样时，以像素pr为中心点的图像块Pr大小为s×s，r的取值为1，2，...(N?s+1)×(N?s+1)，图像块Pr内共有s2个点，以中心点pr为起点，按照从内到外、从上到下的顺时针螺旋方式标号为0，1，2，.

专利地区：湖北