利用Monte Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法专利登记公告

专利名称：利用Monte Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法

摘要：利用Monte?Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法，涉及一种双能X射线成像进行物质识别的方法。它是为了解决目前在安检过程中，物质识别准确率低的问题。其方法：步骤一、利用Monte?Carlo方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程，产生轫致辐射，获得X射线谱；步骤二、对步骤一获得的X射线谱进行准直，准直后扫描待测样品，获得扫描图像；步骤三、分析步骤二获得的扫描图像，获得待测样品的识别曲线，根据该识别曲线与物质原子之间的关系，从而实现物质识别。本发明适用于安防检查。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210141945.6

专利申请（专利权）人：黑龙江省科学院技术物理研究所

专利发明（设计）人：张慧;梅雪松;庞杨;周巍;关世荣;韩业辉;黄龙川;滕立才

主权项：利用Monte?Carlo方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法，其特征是：它由以下步骤实现：步骤一、利用Monte?Carlo方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程，产生轫致辐射，获得X射线谱；步骤二、对步骤一获得的X射线谱进行准直，准直后扫描待测样品，获得扫描图像；步骤三、分析步骤二获得的扫描图像，获得待测样品的识别曲线，根据该识别曲线与物质原子序数之间的关系，实现物质识别。

专利地区：黑龙江