极向磁光克尔谱和磁圆二向色性谱同步测量系统专利登记公告

专利名称：极向磁光克尔谱和磁圆二向色性谱同步测量系统

摘要：本发明公开了一种极向磁光克尔谱和磁圆二向色性谱同步测量系统，包括：液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光光源、单色仪、斩波器、两个格兰泰勒棱镜、光弹调制器、宽波段消偏振分光棱镜、消色差透镜、硅探测器、三台锁相放大器、以及计算机。利用本发明，可以同时测量样品的极化磁光克尔(KERR)谱和磁圆二向色性(MCD)谱，从而可以进一步研究物质的磁性质以及与自旋相关的能带结构和特性。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210150881.6

专利申请（专利权）人：中国科学院半导体研究所

专利发明（设计）人：黄学骄

主权项：一种极向磁光克尔谱和磁圆二向色性谱同步测量系统，其特征在于，该系统包括：一超连续白光光源(LS)，其出射光经过单色仪(SP)后作为样品测试光源；一单色仪(SP)，用于对白光光源(LS)的出射光进行滤波，仅选择单一波长的光通过；一斩波器(CP)，用于对单色仪(SP)出射光进行斩波调制，并为第一锁相放大器(LIA1)、第二锁相放大器(LIA2)和第三锁相放大器(LIA3)提供参考信号，从而得到样品反射光的强度；一起偏器(P)，用于将单色仪(SP)出射光变为线偏振光；一光弹调制器(MO)，用于将起偏器(P)出射

专利地区：北京