一种对光纤传感器、光纤光栅应变参数的校准的方法专利登记公告
专利名称:一种对光纤传感器、光纤光栅应变参数的校准的方法
摘要:一种对光纤传感器、光纤光栅应变参数校准的方法,采用位移测量法,将精密位移传感器和光纤传感器相结合的方式制作标准传递件产生标准应变量,间接达到对光纤传感器、光纤光栅应变参数的校准,其特征在于,标准传递件包括“凹”字形光学支架、标准光纤传感器、精密位移传感器、位移传感器控制器,“凹”字形光学支架由光学滑轨导槽、固定端、自由端组成,自由端、固定端上方刻有“V”形槽,位移传感器的底座和滑轨由螺栓固定,横向上和光学支架的自由端连接,通过数据线和位移传感器控制器相连接。
专利类型:发明专利
专利号:CN201210154943.0
专利申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第四十一研究所
专利发明(设计)人:韩正英;郑光金;高业胜;赵耀;纪宝平
主权项:一种对光纤传感器、光纤光栅应变参数的校准的方法,采用位移测量法,将精密位移传感器和光纤传感器相结合的方式制作标准传递件产生标准应变量,间接达到对光纤传感器、光纤光栅应变参数的校准,其特征在于,标准传递件包括“凹”字形光学支架、标准光纤传感器、精密位移传感器、位移传感器控制器,“凹”字形光学支架由光学滑轨导槽、固定端、自由端组成,自由端、固定端上方刻有“V”形槽,位移传感器的底座和滑轨由螺栓固定,横向上和光学支架的自由端连接,通过数据线和位移传感器控制器相连接。
专利地区:山东
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。