一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法专利登记公告

专利名称：一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法

摘要：本发明公开了一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法，该装置包括双频激光器、1/2波片和两套角锥棱镜阵列；在双频激光器的光轴后设置分光棱镜，分光棱镜的反射光轴上设第一检偏器和第一光电接收器；分光棱镜的透射光轴上设1/4波片；1/2波片位于两套角锥棱镜阵列中间；在两套角锥棱镜阵列的出射光轴上设直角反射棱镜，在直角反射镜的反射光轴上设第二检偏器和第二光电接收器；第一光电接收器和第二光电接收器的输出端连接相位计。本发明将探测元件置于两套角锥棱镜阵列中，从而有效地将用于位移测量的阵列式多次反射法应用于滚转角测

专利类型：发明专利

专利号：CN201210158310.7

专利申请（专利权）人：西安交通大学

专利发明（设计）人：王昭;汤善治;高建民;钟丽红;郭俊杰

主权项：一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置，其特征在于，包括双频激光器（1）、1/2波片（7）和两套角锥棱镜阵列；在所述双频激光器（1）的光轴后设置有分光棱镜（2），所述分光棱镜（2）的反射光轴上设有第一检偏器（3）和第一光电接收器（4）；所述分光棱镜（2）的透射光轴上设有1/4波片（5）；所述1/2波片（7）位于两套角锥棱镜阵列中间；在两套角锥棱镜阵列的出射光轴上设有直角反射棱镜（8），在直角反射镜（8）的反射光轴上设有第二检偏器（9）和第二光电接收器（10）；所述第一光电接收器（4）和第二光电接收器（10

专利地区：陕西