电容式触摸屏的测试方法及其测试设备专利登记公告

专利名称：电容式触摸屏的测试方法及其测试设备

摘要：本发明提供了一种电容式触摸屏的测试方法，包括新式的IC功能测试、功耗测试、短路测试和开路测试方法。本发明还提供了一种电容式触摸屏的测试设备，包括屏幕测试板块及电路检测板块，所述的屏幕测试板包括金属圆棒和屏幕定位槽，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽两侧；所述的电路检测板块包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。本发明集合短路测试、开路测试、IC功能测试和功耗测试于一体，可对电容

专利类型：发明专利

专利号：CN201210160423.0

专利申请（专利权）人：东莞通华液晶有限公司

专利发明（设计）人：潘翼辉

主权项：一种电容式触摸屏的测试方法，包括IC功能测试，所述的IC功能测试包括如下步骤：写入固件至驱动IC中，从驱动IC的指定堆栈中读取固件的版本号并且核对，其特征在于，还包括功耗测试、短路测试和开路测试，所述的开路测试包括如下步骤：a1.通过驱动IC读取触摸屏上的各个ITO传感器的电容值，并且定义每个ITO传感器读取的电容值为对应ITO传感器的电容参考值；a2.设置一支紧贴且横向跨越触摸屏表面的金属圆棒，所述的金属圆棒与触摸屏的行方向平行；a3.自触摸屏顶端向底端滚动金属圆棒，金属圆棒每经过一行传感器分别读取所有

专利地区：广东