基于偏振分束干涉技术的保偏光纤偏振耦合强度测试方法专利登记公告

专利名称：基于偏振分束干涉技术的保偏光纤偏振耦合强度测试方法

摘要：本发明针对现有技术准确度低，采集信号弱，信噪比差的主要问题，提供一种基于偏振分束干涉技术的测试方法，能够有效消除光源功率波动对测量结果的影响，显著提高保偏光纤偏振耦合强度的测量准确度低，并且控制方法简单，控制软件集成度高。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210167591.2

专利申请（专利权）人：中国电子科技集团公司第四十一研究所

专利发明（设计）人：郑光金;高业胜;赵耀;全治科;韩正英;刘志明;李国超;陈振琳

主权项：一种基于偏振分束干涉技术的保偏光纤偏振耦合强度测试方法，其特征在于，将被测保偏光纤(2)两端熔接到保偏光纤跳线上，保偏光纤跳线首端接到宽光谱偏振光源(1)上，保偏光纤慢轴起偏入射，光源光谱成高斯分布；保偏光纤跳线末端连接到偏振分束干涉仪输入端的自聚焦透镜上，保证光束被扩束成平行光入射到偏振分束棱镜(3)中，偏振光经保偏光纤跳线耦合入被测保偏光纤(2)中，这时只有一种偏振主模Ix在保偏光纤中传播，当保偏光纤中某两个点发生偏振耦合时，一部分光耦合到正交的本征轴(快轴)上去，形成另一偏振耦合模，在光纤输出端将会

专利地区：山东