用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法专利登记公告

专利名称：用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法

摘要：本发明公开了一种用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法，涉及液晶模组检测技术领域。该装置包括：密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。本发明的装置、系统及方法通过对待测液晶模组定制密闭、绝热特性好的透明容器，使用模组自身背光和面板所发出的热量来形成测试所需的温度环境，减小了装置体积，降低了成本；将信号发生模块和温度控制模块集成在容器内，可进一步减小装置体积，使其方便携带，有利于液晶模组检测评定的实时

专利类型：发明专利

专利号：CN201210168213.6

专利申请（专利权）人：京东方科技集团股份有限公司

专利发明（设计）人：张培林;柳在健

主权项：一种用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，该装置包括：密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。

专利地区：北京