一次性石英晶体微天平传感器检测装置及使用方法专利登记公告

专利名称：一次性石英晶体微天平传感器检测装置及使用方法

摘要：本发明公开了一种低成本的一次性石英晶体微天平（QuartzCrystalMicrobalance:QCM）传感器检测装置，QCM晶片与QCM聚乙烯塑料盒体构成的QCM快速、衡量测试座，根据主谐振频率或阻抗的变化在液相下分析材料及生物物质。QCM晶片固定在有聚乙烯塑料制成的QCM底座上，将晶片背面电极对准底座弹性电极片，QCM上盖压在晶片上，QCM上盖上突出的金弹性电极片对准晶片正面的QCM金电极，压紧QCM盖和底座，将外壳金属夹夹上，实现QCM上盖、底座的电极与QCM晶片的电极紧密接触。该检测盒与QCM晶

专利类型：发明专利

专利号：CN201210181432.8

专利申请（专利权）人：成都柏森松传感技术有限公司

专利发明（设计）人：永远;韩奎;李继

主权项：一种一次性石英晶体微天平传感器检测装置，其特征在于：设有上盖（12a）、底座（12b），所述上盖(12a)?中部是圆柱体电极观察窗（13a），所述下盒（12b）中部是电极观察窗（13b），所述上盖(12a)上设有突出的圆环体状承载盘盖（15），底座（12b）上设有与所述圆环体状承载盘盖（15）对应的圆形承载盘盒（16）形成凹槽式固定方法一起将QCM晶片固定，其目的在于能够很好的保证QCM在振动过程中不会发生位移，并使得QCM金电极能够与外部电极紧密良好的接触在一起，保证测量的正常进行，采用外部压力夹（18

专利地区：四川