反射式差动共焦透镜中心厚度测量方法专利登记公告

专利名称：反射式差动共焦透镜中心厚度测量方法

摘要：本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种反射式差动共焦透镜中心厚度测量方法。该方法通过差动共焦测量方法配合平面反射镜精确定位透镜前表面顶点和后表面顶点，进而通过光线追迹公式测得透镜中心厚度。本发明首次提出利用被测透镜自身发出的光束并结合差动共焦技术对被测透镜前、后表面顶点进行高精度定焦瞄准，很大程度上降低了被测透镜的装调难度，具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点，可用于透镜中心厚度的高精度检测。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210190779.9

专利申请（专利权）人：北京理工大学

专利发明（设计）人：赵维谦;杨佳苗;邱丽荣;李佳;邵荣君;吴华玲

主权项：反射式差动共焦透镜中心厚度测量方法，其特征在于：(a)打开点光源，其发出的光透过分光镜、准直透镜和被测透镜后由平面反射镜反射形成测量光束，测量光束照射在被测透镜前表面或后表面，被测透镜的前表面或后表面将测量光束反射，反射回来的光沿原光路返回，并由分光镜反射进入差动共焦测量系统；(b)调整被测透镜，使其与准直透镜共光轴，准直透镜将点光源产生的光准直成平行光照射在被测透镜上，调整平面反射镜，使其与准直透镜共光轴；(c)沿光轴方向移动平面反射镜，使测量光束的聚焦焦点与被测透镜后表面接近，在该位置附近扫描平面反射

专利地区：北京