测试治具框架专利登记公告
专利名称:测试治具框架
摘要:本实用新型涉及一种测试治具框架,该框架包括底板、固定在所述的底板上的挡板,至少两块旁侧板以及固定在所述的旁侧板上的牛角座,所述的旁侧板固定在所述的底板上后伸出所述的底板一段距离,所述的牛角座固定在所述的旁侧板伸出所述的底板的部分,并且所述的底板、牛角座分别位于所述的挡板、旁侧板的两侧。本实用新型的框架各部分能够拆卸,可循环使用及单独更换,其结构简单,使用方便,制作成本低。
专利类型:实用新型专利
专利号:CN201220104843.2
专利申请(专利权)人:昆山鼎鑫电子有限公司
专利发明(设计)人:王晓萍;陈书华;肖高峰
主权项:??一种测试治具框架,其特征在于:该框架包括底板、固定在所述的底板上的挡板,至少两块旁侧板以及固定在所述的旁侧板上的牛角座,所述的旁侧板固定在所述的底板上后伸出所述的底板一段距离,所述的牛角座固定在所述的旁侧板伸出所述的底板的部分,并且所述的底板、牛角座分别位于所述的挡板、旁侧板的两侧。
专利地区:江苏
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