胶体金试纸条反射测量托盘专利登记公告

专利名称：胶体金试纸条反射测量托盘

摘要：胶体金试纸条反射测量托盘，涉及一种胶体金试纸条。设有盘体、胶体金试纸条和定位块，所述盘体中设有凹槽，所述胶体金试纸条设在凹槽内，所述定位块设在凹槽内，所述胶体金试纸条一侧设有刻度线，刻度线用于表示胶体金试纸条所在位置。所述胶体金试纸条反射测量托盘，专门用于胶体金试纸条反射测量读数。所述定位块可设左定位块和右定位块，所述左定位块和右定位块分别设在凹槽内两端。定位块将胶体金试纸条定位在凹槽内。结构简单，使用方便，具有定位可调功能，不仅可适用于各种长度不同的胶体金试纸条，而且可使胶体金试纸条放置的位置正确,具有普遍适用性。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201220452814.5

专利申请（专利权）人：北京欧达恒基科技发展有限公司;北京市理化分析测试中心

专利发明（设计）人：陈晓汀

主权项：胶体金试纸条反射测量托盘，其特征在于设有盘体、胶体金试纸条和定位块，所述盘体中设有凹槽，所述胶体金试纸条设在凹槽内，所述定位块设在凹槽内，所述胶体金试纸条一侧设有刻度线，刻度线用于表示胶体金试纸条所在位置。

专利地区：北京