一种真空两段式测试结构专利登记公告

专利名称：一种真空两段式测试结构

摘要：本实用新型公开了一种真空两段式测试结构，其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板，上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧，长针的长度大于短针的长度，电磁铁位于一个下针板的一端，上模挂钩与下模钩座连接，下模钩座与电磁铁电连接，长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直，上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。本实用新型降低制造成本和减小空间，且对探针没有任何影响，还能快速的转换测试。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201220486443.2

专利申请（专利权）人：张艳

专利发明（设计）人：张艳

主权项：一种真空两段式测试结构，其特征在于，其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板，上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧，长针的长度大于短针的长度，电磁铁位于一个下针板的一端，上模挂钩与下模钩座连接，下模钩座与电磁铁电连接，长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直，上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。

专利地区：广东