一种表贴半导体分立器件测试探头专利登记公告

专利名称：一种表贴半导体分立器件测试探头

摘要：本实用新型公开了一种表贴半导体分立器件测试探头，它包括手柄（1）和转换头（6），手柄（1）一端有插孔（3）另一端有插头（4），转换头(6)通过插针（5）插入手柄（1）的插孔（3）中，手柄（1）通过插头（4）与测试仪器连接，手柄（1）上安装有开关（2），转换头（6）一端有插针（5）另一端有探针（11），探针（11）通过导线（9）与插针（5）连接；解决了表贴半导体分立器件不能在现有的半导体分立器件仪器上进行测试，由于测试不方便导致的影响表贴半导体分立器件的推广应用等问题。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201220501683.5

专利申请（专利权）人：贵州航天计量测试技术研究所

专利发明（设计）人：唐诚;唐美琼;赵青莲

主权项：一种表贴半导体分立器件测试探头，它包括手柄（1）和转换头（6），其特征在于：手柄（1）一端有插孔（3）另一端有插头（4），转换头(6)通过插针（5）插入手柄（1）的插孔（3）中，手柄（1）通过插头（4）与测试仪器连接，手柄（1）上安装有开关（2），转换头（6）一端有插针（5）另一端有探针（11），探针（11）通过导线（9）与插针（5）连接。

专利地区：贵州