高精度一维形貌检测仪专利登记公告

专利名称：高精度一维形貌检测仪

摘要：高精度一维形貌检测仪，属于高精度检测装置领域。包括测量端直线滑轨等部件。测量端直线滑轨下端安装测量端探针，且位于牵引固定杆上方；测量端探针穿过牵引固定杆上的圆孔与测量杠杆接触；测量杠杆与牵引固定杆通过杠杆固定轴连接，且与配重块滑动连接；接触端直线滑轨的轨道杆穿过测量杠杆凹槽，且其下端安装接触端探针；轴承固定轴穿过接触端直线滑轨轨道下端的圆孔，且中心位置固定于其内；滚动轴承安装于轴承固定轴的两端，且位于轴承滚动轨道槽内并与其接触。本实用新型为双触针、双导轨结构，减少被测表面损伤，延长触针使用寿命，同时避免触针与被测表面形成微小角度引起的误差提高了精度。本测量仪器成本低、精度高、操作简便。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201220659420.7

专利申请（专利权）人：长春理工大学;河北省激光研究所

专利发明（设计）人：秦旭磊;王景奕;李野;郭剑

主权项：高精度一维形貌检测仪，其特征是：包括测量端直线滑轨（1）、测量端探针（2）、牵引固定杆（3）、测量杠杆（4）、杠杆固定轴（5）、配重块（6）、测量杠杆凹槽（7）、接触端直线滑轨（8）、轴承滚动轨道槽（9）、轴承固定轴（10）、滚动轴承甲（11）、接触端探针（12）、滚动轴承乙（13），所述的测量端直线滑轨（1）的下端安装有测量端探针（2），且测量端直线滑轨（1）位于牵引固定杆（3）的上方；所述的测量端探针（2）穿过牵引固定杆（3）上的圆孔与测量杠杆（4）接触；所述的测量杠杆（4）与牵引固定杆（3）通过杠杆

专利地区：吉林