物体表面发射率测定和携带式测定仪专利登记公告

专利名称：物体表面发射率测定和携带式测定仪

摘要： 本发明用测定仪对同一物体表面采用换罩的方法进行两次测量,第一次测得信号值与第二次信号值之比即为被测热物体表面发射率.所使用的测定仪包括测量头和二次仪表两部分.测量头由主体筒、检测罩、热敏电阻和调试装置等组成.检测罩包括反射罩和吸收罩,二者均具有半圆球形内表面,外形尺寸完全相等.使用本发明可在工业现场直接测量各种热设备和热物体的表面发射率,对节约能源有重要意义.

专利类型：发明专利

专利号：CN85103721

专利申请（专利权）人：华中工学院

专利发明（设计）人：肖庆光; 徐恕宏; 叶林; 樊∴瑞

主权项： 一种测量物体表面发射率的方法，其特征为用测定仪对同一物体表面采用换罩的方法进行两次测量。第一次测量时测定仪的测量头检测罩为吸收罩，第二次测量时检测罩用反射罩，被测物体表面发射率＝第一次测量信号值／第二次测量信号值。

专利地区：湖北