聚焦X光衍射计专利登记公告
专利名称：聚焦X光衍射计
摘要： 一种用于测定晶体物质结构的、按西曼--博林(Seeman-Bohlin)原理设计的聚焦X光衍射计,其特征是具有一套三齿轮系统(中心轮固定),由一个电机--减速器驱动,结构简单.
专利类型：实用新型专利
专利号：CN85200025
专利申请（专利权）人：清华大学
专利发明（设计）人：汪泓宏
主权项： 一种按西曼－博林（Ｓｅｅｍａｎ－Ｂｏｈｌｉｎ）聚焦原理布置的测定晶体物质结构的聚焦Ｘ光衍射计，其特征在于采用一套具有固定不动的中心轮的三齿轮传动系统。
专利地区：北京
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