光学物性测定装置专利登记公告

专利名称：光学物性测定装置

摘要： 本实用新型系利用光束在三块经适当配置的镀有高反射膜层的球面反射镜之间多次反射但发散度保持不变的性质,来测量不同介质(气体、液体及透明固体介质)在不同物理条件(电、磁场强度、气压、温度、放电激发)下于不同波长处的吸收,增益等物性.本仪器的光程(反射次数)调节及信号测量与处理均由计算机程控完成.

专利类型：实用新型专利

专利号：CN85200312

专利申请（专利权）人：中国科学院物理研究所

专利发明（设计）人：张治国; 俞祖和; 朱化南; 韩权生

主权项： 一种由样品室〔４〕及固体样品室的定位装置〔２０〕、光电检测器〔１２〕、数据显示系统〔１３〕所组成的光学物性测定装置、其特征在于：由凹面镜〔１〕和〔２〕安装在样品室〔４〕的一端，凹面镜〔３〕安装在样品室〔４〕另一端，凹面镜〔１〕、〔２〕经调整机构〔５〕与凹面镜〔３〕调成共焦结构。样品室〔４〕为一个可拆卸的封闭容器，是“通用型”或者是“放电激发型”的样品室。

专利地区：北京