激光辐射强度分析装置专利登记公告
专利名称:激光辐射强度分析装置
摘要: 本实用新型属于一种量热式激光辐射强度测量及稳定性分析装置.采用了量热式高重复率探测器和高精度运算放大器,在运算放大器与微处理机之间装有同步控制器,运算放大器设置了双层屏蔽环,模数转换器为AD574.本实用新型解决了现行量热式激光辐射强度测量仪响应速度慢的间题,具有精度高、灵敏度高、波段宽、响应速度快的特点,可用于激光辐射强度的高重复率测量与稳定性分析.
专利类型:实用新型专利
专利号:CN85201948
专利申请(专利权)人:天津市激光技术研究所
专利发明(设计)人:顾泽苍; 刘桥初; 沈德利; 于世芬; 张清理
主权项: 一种量热式激光辐射强度分析装置,它包括激光器、探测器、运算放大器、模数转换器、微处理机、显示器打印机,本实用新型的特征是采用了量热式高重复率探测器(Ⅱ),运算放大器(Ⅲ)与微处理机(Ⅵ)之间装有同步控制器(Ⅴ),运算放大器(Ⅲ)设置了双屏蔽环(1)(2),模数转换器(Ⅵ)采用AD574。
专利地区:天津
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