不需校正的颗粒分析计专利登记公告

专利名称：不需校正的颗粒分析计

摘要： 本实用新型提供了一种不需校正的颗粒分析计装置。它是由最小刻度值为０．５(甲种)或最小刻度值为０．２（乙种）并在分度表上标有土粒有效沉降距离，构成双刻度的比重计与固定直径的专用量筒配套组合成的。使用时不需刻度修正值，并能直接读得土粒有效沉降距离。有内附温度计的比重计还能同时指示温度和温度补正值。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN85205497

专利申请（专利权）人：姚长华

专利发明（设计）人：姚长华

主权项： 不需校正的颗粒分析计，特别是土颗粒分析计，其特征是：颗粒分析比重计的分度表刻度甲种为０．５，乙种为０．２，在分度表上同时刻有土粒有效沉降距离，它与专用量筒组成配套的颗粒分析计装置，内附温度计上同时标有温度补正值。

专利地区：上海