普通测微尺专利登记公告

专利名称：普通测微尺

摘要： 普通测微尺是一种机械计量检测精密测量的主要工具。本实用新型由普通百分尺经过结构改造，将尺转动、刻度、外形规格改变成普通能测微的精密尺。刻度每格读数为０．００２５毫米，比百分尺提高４倍，实测物读值精确度提高八倍。能完成计微目的达到国际公差要求。特点：可测圆、方、长度及各种几何图形。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN86201486

专利申请（专利权）人：张世俊

专利发明（设计）人：张世俊

主权项： 普通测微尺是一种机械计量检测精密测量的主要工具。测砧②与毫米套筒③压合在半圆形尺架①上。微分筒⑥在毫米套筒③上可往复转动移进，每格读数为０．００２５毫米。其特征在于：　　ａ．测杆④螺距ｔ＝０．２５毫米特殊螺距。　　ｂ．微分筒刻度刻１００格。

专利地区：辽宁