高灵敏度长度测量干涉仪专利登记公告
专利名称：高灵敏度长度测量干涉仪
摘要： 本实用新型提供了一种高灵敏度长度测量用的干涉仪，适合于测量长度、微小位移量。它是在Ｇ·Ｗ·ｓｔｒｏｋｅ干涉仪上，增加了棱镜和平面反射镜。它在不需电子倍频装置的情况下，可使测量格值为任意值。通过增减棱镜的个数，满足不同测量灵敏度的要求。
专利类型：实用新型专利
专利号：CN86202036
专利申请（专利权）人：北京光学仪器厂
专利发明（设计）人：吴振华
主权项： 一种由平面反射镜（５，７）、锥体棱镜（２）、分光镜（４）组成的实现长度测量的干涉仪，其特征在于干涉仪中安置了锥体棱镜（６）和平面反射镜（３）。
专利地区：北京
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