β射线测定蛋壳厚度的装置专利登记公告
专利名称：β射线测定蛋壳厚度的装置
摘要： β射线测定蛋壳厚度的装置，利用β射线对物质的反射强度和物质的厚度成正相关测定蛋壳厚度，属于核技术应用领域。本实用新型由环状测试头，光电倍增管、锡箔及计数器组成。测试头内向环心倾斜４５度角的放射源发出一束β射线辐射蛋壳，反射后穿透锡箔到光电倍增管，经放大转换成电脉冲信号输出，由计数器显示结果。
专利类型：实用新型专利
专利号：CN86207436
专利申请（专利权）人：东北农学院同位素教研室
专利发明（设计）人：崔在久
主权项：一种测定蛋壳厚度的装置，其特征在于它由装有放射源的环状测试头、光电倍增管、锡箔和计数器组成。
专利地区：黑龙江
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