可同时探测Ｃａ．Ｆｅ．Ｓｉ．Ａｌ．的特征谱线的薄窗多丝正比计数器专利登记公告

专利名称：可同时探测Ｃａ．Ｆｅ．Ｓｉ．Ａｌ．的特征谱线的薄窗多丝正比计数器

摘要： 一种属于核物理学中测量低能Ｘ、γ射线的探测器。由一盒体和盒盖组成的空腔内有若干根阳极丝等距离地分布在腔内上、下对称的中间位置；盒盖上有一入射窗口和一背窗，用镀铝聚酯薄膜制成，膜下衬一网栅或多孔板，盒体开有两进、出气口。该计数器对２Ｋｅｖ以下的软Ｘ射线探测效率高，允许在抽真空的条件下使用，能量分辨率达到１８％（对５．９Ｋｅｖ的Ｘ射线），可用于测量水泥中Ｃａ、Ｆｅ、Ｓｉ、Ａｌ的含量。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN86209041

专利申请（专利权）人：清华大学

专利发明（设计）人：谢程远

主权项：一种探测低能ｘ、ｙ射线的正比计数器，在空腔的壁上开有入射窗，空腔内有阳极丝，其特征在于：由一盒体、盒盖组成的扁园柱形或正方形的空腔里有若干根阳极丝，等距地分布在腔内上、下对称的中间位置，入射窗用镀铝薄膜，窗膜下有一保护装置在盒底部开有一后窗，后窗也用镀铝薄膜。盒体开有两个进、出气孔。

专利地区：北京