改进型的双光束Ｘ射线测厚仪专利登记公告

专利名称：改进型的双光束Ｘ射线测厚仪

摘要： 一种改进型双光束Ｘ射线测厚仪，采用标准片代替以往的基准楔进行厚度设定，并能实现被测板材质补偿。该测厚仪中的前置放大器采用微电机流放大器和对数放大器相结合的电路，实现偏差指示的线性化。同时在设定光束中设置适当的平衡片，使两束光束完全平衡。从而使之充分发挥了双光束测量方式稳定性高、噪音低的特点，用简单的电路和小的Ｘ射线强度，实现高精度的厚度测量。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN86209739

专利申请（专利权）人：治金工业部自动化研究所

专利发明（设计）人：余式正

主权项：一种改进型双光束Ｘ射线测厚仪，其特征在于：　　ａ）、前置放大器采用微电流放大器和对数放大器相结合的电路，实现偏差指示的线性化；　　ｂ）、用标准片代替基准楔进行厚度设定，同时能通过材质补偿电位器实现被测板材质补偿；ｃ）、在设定光束中设置适当厚度的平衡片，使两束光束完全平衡。

专利地区：北京