光学元件厚度的光学测量仪器专利登记公告

专利名称：光学元件厚度的光学测量仪器

摘要： 一种用于测量光学元件厚度的光学测量仪器，属于测量和测试装置。它由麦克逊干涉系统组成的，根据白光干涉条纹定位并将被测光学元件与标准块比较，对当前尚末解决的胶合透镜。可见光不透明的光学元件，末知材料的光学元件和无法预知厚度且误差不大于百分之五毫米的光学元件实现非接触测量，同时减少测试成本和测试时间。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87200715

专利申请（专利权）人：浙江大学

专利发明（设计）人：徐昌杰

主权项： 一种光学元件厚度光学测量仪器，由麦克尔逊干涉系统组成，本实用新型的特征是，在被测件〔５〕的一侧，由固定镜〔１〕，透反镜〔２〕、补偿板〔３〕及白光光源〔４〕组成的左麦克尔逊干涉系统和在被测件〔５〕的另一侧，由上与指示器〔１０〕相接触而且能上下移动的可动平面镜〔６〕、透反镜〔８〕、补偿板〔７〕及白光光源〔９〕组成的右麦克尔逊干涉系统构成，装有被测件〔５〕的测量架〔１１〕能沿被测件光轴方向左右移动及测量架〔１１〕自身在基准底平面上转动，以调节光轴方向与ＯＯ轴方向平行。

专利地区：浙江