金相试样机械抛光自动装置专利登记公告

专利名称：金相试样机械抛光自动装置

摘要： 一种利用磁力的机械式金相抛光自动装置。解决了允许同时抛光制备不苟形状、尺寸的多只试样，使用最为方便，以及试样的试面能在理想状态下得到抛光制造的关键问题。该装置用于各种材料金相试样的抛光制备。其主要技术特征是，金相试样受置样盘制约，沿磁场之磁力线密集部位。试面紧贴于抛光转盘磨面，作正圆轴迹向心匀速旋转。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87203595

专利申请（专利权）人：郭广民; 吴敏书

专利发明（设计）人：吴敏书; 郭广民

主权项： 一种由磁钢１、置样盘２、抛光转盘３、动力头４、盘架５、磁钢调节组件６、抛光织物７、紧圈８、主轴９、主轴承架１０组成的金相试样机械抛光自动装置，其特征在于：　　ａ、磁钢１与置样盘２同轴。　　ｂ、置样盘２的样孔与磁钢１的磁力线密集部位重合。　　ｃ、磁钢１与置样盘２位于抛光转盘３的圆心和边缘之间。　　ｄ、抛光转盘３位于磁钢１和置样盘２之间。

专利地区：河南