相平衡熔点精密测定装置专利登记公告

专利名称：相平衡熔点精密测定装置

摘要： 根据相平衡原理而设计了一种熔点精密测定装置，它是一种热分析仪表。主要以半导体热敏元件，直接测定试样固液两相平衡时的温度，即熔点。它克服了毛细法熔点仪的一些固有缺点，具有测定精度高(熔点200℃以下者，误差不大于0.1℃)，结构简单并可同时测定多个试样，此装置适于熔点在300℃以下化学物质的熔点或凝固点测定。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87208429

专利申请（专利权）人：国营庆阳化工厂

专利发明（设计）人：潘国治

主权项： 根据相平衡原理，设计了一种精密熔点自动测定装置。其特征在于：以半导体热敏元件为检测元件所组成的测定电路、一只底部为球形上部与热敏元件紧密吻合的玻璃试管和精密恒温液槽所构成的一种简便溶点测定装置。

专利地区：辽宁