气压扫描半导体激光器线宽测试仪专利登记公告

专利名称：气压扫描半导体激光器线宽测试仪

摘要： 气压扫描半导体激光器线宽测试仪是一种激光器参数测试仪器，它由望远镜系统、密封气压室、Ｆ－Ｐ标准具和气压控制系统及压力传感器等组成；可以用x－y记录仪直接画出激光的线形和模式，也可以同时用Ｚ－８０单板机直接读出激光器线宽的数值；具有结构简单、操作方便、性能稳定和成本低等优点，对环境条件无特殊要求，测量精度较高；不仅可以测量半导体激光器线宽，还可以制成干涉仪，用于测量气体折射率和微位移。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87208603

专利申请（专利权）人：南京工学院

专利发明（设计）人：汪开源; 高中林; 章建洛; 孟晓晶

主权项： 气压扫描半导体激光器线宽测试仪由望远镜系统、Ｆ—Ｐ标准具和气压室等组成，其特征在于Ｆ—Ｐ标准具放在一个密封气压空中，控制气压室（３）中气体变化的气压控制系统（９）与气压室相通，气压室还与反映气压信号的压力传感器（５）相连。

专利地区：江苏