半导体整流器件动态质量分选装置专利登记公告

专利名称：半导体整流器件动态质量分选装置

摘要： 本实用新型公开了一种半导体整流器件动态质量分选装置，它包括被测件的预热装置，标况工况建立部分，∴参数提取微型机管理系统，及配套的机械分选机构，其根据动态反向平均电流∴的理论设计了以环境温度Ta及检测动态反向平均电流∴为检测依据，实现多级检测分析，配合一级复检装置。它可以保证上机合格率，极有利于生产厂和使用厂进行质量控制。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87209491

专利申请（专利权）人：石家庄市自动化所

专利发明（设计）人：赵富; 李曾锡; 葛淑欣; 霍一平

主权项： 一种半导体整流器件动态质量分选装置，其特征在于该装置包括根据最高环境温度Ｔａｍ设定的预热器（Ａ１）标准工况设定部分（Ａ２），动态参数ＩＲ提取电路（Ａ３），微机管理系统（Ｃ）及机械分选配套机构（Ａ４）。

专利地区：河北