微机化数字集成电路功能测试仪专利登记公告

专利名称：微机化数字集成电路功能测试仪

摘要： 微机化数字集成电路功能测试仪，其目的在于使用微处理器电路技术测试数字集成电路器件的功能。$本测试仪可测试从１４到２４脚的ＴＴＬ和ＣＭＯＳ数字集成电路功能的好坏。只需把被测数字集成电路的型号用键盘输入，按一下测试键，即可自动测试，由ＬＥＤ指示器显示好坏。本测试仪中含有固化有３００多个测试程序的ＥＰＲＯＭ２７１２８，且还余有７Ｋ的存储量，可供编制新产品的数字集成电路的测试程序，故还有扩展功能的潜力。它具有快速、准确的特点，且成本低，是较理想的数字集成电路测试仪。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87211391.4

专利申请（专利权）人：华东师范大学

专利发明（设计）人：刘必虎; 吴迎潮

主权项：微机化数字集成电路功能测试仪由Ｚ８０－ＣＰＵ微处理器１２，Ｚ８０－ＰＩＯ接口３，４，Ｉ／Ｏ译码器１４，ＥＰＲＯＭ２７１２８可擦除可编程只读存储器９，ＲＡＭ２１１４读写存储器８，ＬＥＤ七段显示器６，测试插座１，２组成，其特征在于采用能测试数字集成电路功能的电路连接结构，其中ＥＰＲＯＭ２７１２８可擦除可编程只读存储器９内固化有３００多个测试程序。

专利地区：上海