双通道X射线线扫描检查设备专利登记公告
专利名称:双通道X射线线扫描检查设备
摘要: 本实用新型公开了一种双通道X射线线扫描设备。用一个X射线源和一套检查设备交替检查两个通道的行李。探测器中的闪烁晶体选用了两种不同密度的晶体,解决了双通道成象的几何失真和灵敏度不均衡问题。在视频信号处理器中增加了一个直方图均衡器,自动实现了图像灰度均衡。
专利类型:实用新型专利
专利号:CN87212001
专利申请(专利权)人:公安部第一研究所
专利发明(设计)人:傅森; 陈惠民; 张德群; 刘平; 任建黎
主权项: 一种双通道X射线线扫描检查设备,包括:(1)X射线源〔1〕,(2)X射线源控制电路〔15〕。 (3.1)垂直探测器〔5〕, (3.2)水平探测器〔6〕, (4)传送装置, (5)系统控制器〔14〕, (6)监视器〔8〕,和 (7)视频信号处理器〔7〕,包括:(7.1)模/数信号处理器〔16〕, (7.2)图像存贮器〔17〕, (7.3)系统时钟〔18〕,(7.4)数/模转换器〔20〕, 其特征在于:(3.1)探测器使用了不同密度的晶体, (4)传送装置有两个通道〔3、5〕,和 (7
专利地区:北京
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