超声波探伤缺陷定位尺专利登记公告

专利名称：超声波探伤缺陷定位尺

摘要： 一种超声波缺陷定位尺，由尺身、滑尺、游标构成。尺身由面板（５）、限位臂（２）和（３）以及板条（６）和（７）组成。在面板（５）上设置有标注有Ｋ值的斜线族。在板条（６）和（７）上分别设置有Ｋ尺标和Ｘ尺标，在滑尺（４）的中间处设置有坐标系，其两边设置有Ｃ尺标和Ｘ_F尺标。上述四种尺标满足了缺陷定位尺的计算需要。利用本定位尺能方便地配合超声波探伤仪对缺陷进行现场快速定位，无需进行繁琐的数学计算。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87214287

专利申请（专利权）人：天津大学分校

专利发明（设计）人：朱宝安

主权项： 一种超声波探伤缺陷定位尺，由尺身、滑尺和游标构成，其特征是，所述尺身〔１〕由面板〔５〕、限位臂〔２〕和〔３〕以及板条〔６〕和〔７〕组成，面板〔５〕与板条〔６〕和〔７〕之间有槽口，以便滑尺〔４〕可以左右滑动，面板〔５〕的外表面上刻有Ｋ值斜线，板条〔６〕和〔７〕上分别刻有Ｋ尺标和Ｘ尺标，滑尺〔４〕的一面中间处设置有坐标系，滑尺〔４〕另一面的两边分别刻有Ｃ尺标和Ｘ↓〔Ｆ〕尺标，上述Ｋ尺标是按Ｌ↓〔ｇ１０〕１０·＊＊＊的公式刻制的，Ｋ值斜线是根据Ｋ＝ｔｇβ的公式刻制的。

专利地区：天津