显微镜光度计专利登记公告

专利名称：显微镜光度计

摘要： 本实用新型提供了一种定量测试细微物体反射率的装置，它通过设置三维可调的光度计视域光栏透镜来与显微镜视域光栏透镜分别承担使光度计视域光栏和显微镜视域光栏成象的任务，从而排除杂散光的影响，提高了仪器的分辨率；并且通过对测量光栏实施一次性调试一光斑验证法，使它置于物象平面并与光度计视域光栏象同轴，简化了现有的显微镜光度计的测量光栏系统，从而减少了光吸收，降低了对测量部分的要求，降低了装置的成本。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87214585

专利申请（专利权）人：地质矿产部海洋地质综合研究大队

专利发明（设计）人：刘崇保

主权项： 一种定量测试细微物体反射率的装置，它包括观察部分和测量部分，观察部分包括矿相显微镜１和观察光源系统２，测量部分包括带有晶体管稳流器３的测量光源４、测量光源４出射光通路上的单色仪５、单色仪５与观察光源系统２之间的位于矿相显微镜后方的镜室６、单色仪５与镜室６之间的在平面上两维可调的光度计视域光栏３０、上述矿相显微镜１顶端的测量接筒１６、其内部的测量目镜１５、测量目镜上部的测量光栏系统及测量接筒１６上端的光电倍增管２１、管座及分压器２２、电流电压转换器２３、显示反射率测值的数字表２４和直流稳压电源２５，镜室６

专利地区：上海