可换靶式同位素测厚仪专利登记公告

专利名称：可换靶式同位素测厚仪

摘要： 本实用新型公开了一种可换靶式同位素测厚仪，其特征是采用初级射线源与可更换的靶组成可换靶式源，在初级源的激发下，不同靶产生不同能量的Ｘ射线，对不同材质、不同厚度实现最灵敏的测量。本实用新型设计有开度可调的准直器来调节射束的强度，对不同厚度的材质实现等精度测量。为了随时对测厚仪进行校准，还设计有自动跟随校正器。本实用新型具有测厚范围宽、灵敏度高、稳定性好、结构简单、使用维护方便等优点。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN87214943

专利申请（专利权）人：核工业部大连应用技术研究所

专利发明（设计）人：李福全

主权项： 可换靶式同位素测厚仪，包括射线源１、屏蔽室７、探测器４、二次仪表３３、测量支架３、小车５和导轨６，本实用新型的特征在于射线源是由初级射线源８和可更换的靶１１组成的可换靶式源１，屏蔽室７上装有开度大小可调的准直器３８，小车５和导轨６上装有自动校正器２。

专利地区：辽宁