电流补偿式微电容变化量测试装置专利登记公告

专利名称：电流补偿式微电容变化量测试装置

摘要： 本装置属半导体测量技术（Ｃ－Ｖ技术），具体地说，就是涉及ＭＯＳ器件中微量可动离子，ＰＮ结（或ＭＳ结）中微量深能级杂质以及高性能二极管配对筛选的测量技术。$本装置采用电流补偿原理，将传统Ｃ－Ｖ测量的单端输入运放工作模式改变为两端输入差动电流补偿工作模式，从而使干扰测量的背景电容被自动补偿掉，突出了相关电容的微量变化，使测量的分辨率显著提高（１－２个量级）。另外，由于构思的原因，使本装置的技术与现有设备是兼容的，既可以外加相应的电流补偿措施，也可在原有设备上略加改动，就可以改型，对于厂家、用户都颇为灵活、方便、实惠。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN88200726.2

专利申请（专利权）人：北京大学

专利发明（设计）人：谭长华; 许铭真; 金杰; 王阳元

主权项： 一种由波形可变的电压信号仪１、电压测量记录器２和运算放大器组成的微电容变化量测试装置，其特征在于运算放大器是由微电流计、补偿阻抗３和分压电阻Ｒ所组成的电流补偿差分运算放大器。

专利地区：北京