六价铬离子过程分析系统专利登记公告

专利名称：六价铬离子过程分析系统

摘要： 六价铬离子过程分析仪器由采样检测装置和处理控制装置两部分组成，适用于工业排放废水中六价铬离子浓度在线自动测量。本仪器特征如下：１、优化设计了比色皿的光程尺寸和形状，仪器灵敏度高；２、采用双光路双参数比值运算法，消除了光源电压波动、比色皿污染、光电池疲劳和温度等影响；３、使用单片机，仪器有智能化功能和优秀性能价格比；４、单片机和控制电磁阀取代了复杂的比例泵。因此，本仪器结构简单，灵敏度高，抗干扰能力强，可以长期、可靠且稳定地连续运行。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN88208483.6

专利申请（专利权）人：北京理工大学

专利发明（设计）人：潘亚明; 余润; 薜锦诚; 黄友之; 张若兰; 陈云龙; 姜波; 张文政

主权项： 一种光电比色法Ｃｒ（Ⅵ）过程分析仪器，其特征为它的结构由采样检测装置和处理控制装置组成，采样检测装置包括泵（９）、过滤器（１４）、防腐蚀电磁阀（１０，１１，１３，１５，１８，１９）、显色剂ＤＰＣ贮杯（７）和废水贮杯（８）、显色反应杯（１２）、光源（６）、透镜（４）、滤光片（５）、比色皿（１６、１７）、电流／电压转换放大电路（１）等组成；处理控制装置包括ＭＣＳ—４８系列单片机８０３９为主芯片（包括Ｉ／Ｏ扩展器）（２４）、外接ＥＰＲＯＭ程序存贮器（２１）、多路开关和Ａ／Ｄ转换器（２５）、光电隔离器（２３）、

专利地区：北京