带有定位副尺的外径千分尺专利登记公告

专利名称：带有定位副尺的外径千分尺

摘要： 用普通的外径千分尺测量工件的直径时，为了确保能卡在工件的直径上，需要细心操作，并且常常需要重复操作，还容易被工件撑坏千分尺。本实用新型可以解决上述问题。它在普通千分尺的尺架上增加了一个定位副尺，利用该副尺的定位作用，可以使千分尺方便而准确地卡在工件的直径上，从而避免重复测量和撑坏千分尺，大大地提高测量效率，这种千分尺特别适合于批量产品的检测。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN88215025.1

专利申请（专利权）人：梁助兴; 高慧芳

专利发明（设计）人：梁助兴; 高慧芳

主权项： 一个由尺架［２］和主尺［１］组成的外径千分尺，其特征是，在它的尺架中部安装了起定位作用的副尺［３］。

专利地区：河北