平面波天线零桥断层成像测试装置专利登记公告

专利名称：平面波天线零桥断层成像测试装置

摘要： 平面波天线零桥断层成像测试装置，属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。$本实用新型的微波部分设计采用Ｅ面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源，同抛物面反射体组合成一体，简便地构成平面波照射源，同时由微波零桥环路抵消强入射波信号，因而可以精确地检测出目标的微散射场，并直接计算和完成图像处理。由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射波照射，大大提高了系统的分辨力，可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN89201807.0

专利申请（专利权）人：北京理工大学

专利发明（设计）人：赵川东

主权项：一种平面波天线零桥断层成像测试装置，由微波信号源（７），扫描与旋转机构（９）微波照射与信息检测器（８）、两路幅相接收机（１０）、模／数转换器与接口电路（１１）、电子计算机（１２）、图像显示器（１３）、外存贮器（１４）和打印机（１５）组成，其特征在于：微波照射与信息检测器（８）采用产生平面波的天线与零桥测量系统合为一体的设计，它由窄波束喇叭（２８）抛物面天线（３６）、直口喇叭接收天线（３３）、隔离器（７′）、定向耦合器（１９）、（２２）、（３０）、谐波混频器（２０）、粗调度减器（２３）、移相器（２４）、精密

专利地区：北京