由干涉法测材料线膨胀系数的装置专利登记公告

专利名称：由干涉法测材料线膨胀系数的装置

摘要： 本实用新型涉及一种由于干涉法测材料线膨胀系数的装置。它主要由光源、光学干涉系统、干涉检测部件、测温和控温器件以及记录器件等构成。该装置的主要特点是测量准确，可测量小膨胀系数材料，同时还可对厚度极薄的金属薄片试样的线膨胀系数进行测量。本实用新型所述装置的测量范围可高至６００℃左右，它可由计算机进行数据收集、处理及输出，从而实现了测量的自动化。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN89206887.6

专利申请（专利权）人：上海钢铁研究所

专利发明（设计）人：王培玉; 张金凤

主权项： 一种高精度测量材料线膨胀系数的装置，其特征在于它包括：（Ⅰ）产生单色平行光的光源；　　（Ⅱ）用于产生干涉现象的位于试样两端的上干涉片和下干涉片；　　（Ⅲ）用于检测由上、下干涉片产生的干涉条纹的干涉检测部件；　　（Ⅳ）用于记录由干涉检测部件得到的信号的记录器件；　　（Ⅴ）用以对试样加热的加热炉；　　（Ⅵ）用以测量和控制炉温的测温器件和控温器件。

专利地区：上海