铁谱片光密度测量仪专利登记公告

专利名称：铁谱片光密度测量仪

摘要： 本实用新型涉及光密度测量仪，主要用于机械设备运动副磨损工况的监测，以及各种磨损机制的分析和研究。已有的光密度测量仪油样杂质多，颗粒重叠现象严重，随机误差大。本测量仪在平行光源和聚光透镜之间设置了谱片架和与平行光束垂直的可移光栏，光电传感器置于聚光透镜外侧的焦点上，光栏的透光圆环与谱片的颗粒沉淀圆环直径相同且各圆环的轴线均平行于平行光束。本仪器测试精度高，操作简便直观，可以同时测出磨损程度和速率，便于推广应用。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN89218549.X

专利申请（专利权）人：杭州轴承试验研究中心

专利发明（设计）人：金锡志; 陈德金; 毛丹碧

主权项： 一种用于机械设备磨损工况监测的铁谱片光密度测量仪，主要由光源、光电传感器、信号放大器、信号处理器以及读数显示器组成，其特征在于：光源为平行光源１，在平行光源１和聚光透镜６之间安装有谱片支承架３和与平行光束相垂直的可移光栏４，在聚光透镜６外侧的焦点上放置光电传感器７。

专利地区：浙江