一种检测金银首饰的透空样品盒专利登记公告
专利名称：一种检测金银首饰的透空样品盒
摘要： 本实用新型是一种用于Ｘ射线荧光光谱仪无损检测金银首饰的装载试样的透空样品盒。由盒体、弹簧垫圈、透射环、面罩及盒盖组成。其中垫圈、透射环、面罩及盒盖中间都开有透空圆孔。需检测的金银首饰放于面罩下，露于圆孔中，用盒盖旋紧固定，放于Ｘ射线荧光光谱仪自动换样机上，进行自动分析测定。
专利类型：实用新型专利
专利号：CN93206379.9
专利申请（专利权）人：地质矿产部岩矿测试技术研究所
专利发明（设计）人：陈永君; 邓赛文; 梁国立
主权项： 一种用于Ｘ射线荧光光谱仪无损检测金银首饰的透空样品盒，包括盒体、弹簧垫圈、透射环、面罩及盒盖，其特征在于弹簧垫圈放于盒体中，透射环放于垫圈上，面罩放于透射环上，盒盖与盒体通过螺口相连接。
专利地区：北京
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