综合微粒速度和直径测量仪专利登记公告

专利名称：综合微粒速度和直径测量仪

摘要： 综合微粒速度和直径测量仪不仅同时具备对微粒直径和二维速度进行非接触测量的功能，还具有方位粗调及光纤端口微调的调节机构；三个通道间有严密的抗通道干扰结构，并以光纤—雪崩二极管—放大器系统代替常规的光电倍增管，可获得高信噪比的二维多普勒信号，从而准确地测出二维速度及微粒直径。该仪器具有设计新、功能完备、结构紧凑、调节方便、成本低等优点，广泛适用于科研和工业部门对微粒速度和尺寸的非接触测量。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN93239938.X

专利申请（专利权）人：中国大恒公司

专利发明（设计）人：冀萍; 宋菲君; 王长生

主权项： 一种含有大孔径接收物镜、聚焦物镜、滤色片、光电探测器和放大器的综合微粒速度和直径测量仪，其特征是：在大孔径消色差的接收物镜１之后，设置了三个光电信息通道Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ，每个光电信息通道均由窄带滤光片、小孔径聚焦物镜及光纤组成，并在光纤之后连接带有光纤接口的雪崩二极管一放大器组件；为了光电信息通道的主光轴调节而配置了测微丝杠带动围绕垂直轴与水平轴旋转的方位调节装置，以及在光纤端口连接测微丝杠的微调装置和在光电信息通道的末端由目镜１１及分光镜１２组成的目视监测装置所构成的该测量仪。

专利地区：北京