反馈型激光干涉计专利登记公告
专利名称：反馈型激光干涉计
摘要： 反馈型激光干涉计，是一种利用物理光学干涉原理观测机械工件的光洁度、平整度、形状及夹角的精密测量仪器。它设置有半导体激光器ＬＤ，透镜Ｌ、反射镜Ｍ１和Ｍ２，半反射镜ＢＳ。其特征是：在成象区Ｅ与半导体激光器ＬＤ之间设置有反馈电路，产生反馈电流的组件由针孔板ｄ、光电管ＰＤ和放大器Ａ构成。本实用新型的特点是：抗干扰能力强，能在生产现场对机械工件进行观测。
专利类型：实用新型专利
专利号：CN94203399.X
专利申请（专利权）人：艾勇
专利发明（设计）人：艾勇
主权项： 反馈型激光干涉计设置有半导体激光器ＬＤ，透镜Ｌ、反射镜Ｍ１和Ｍ２、半反射镜ＢＳ，其特征是：在成象区Ｅ与半导体激光器ＬＤ之间设置有反馈电路，产生反馈电流的组件由针孔板ｄ、光电管ＰＤ和放大器Ａ构成。
专利地区：湖北
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目，不代表该专利由我公司代理取得，上述专利权利属于专利权人，未经（专利权人）许可，擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利，请搜索专利权人联系方式，获得专利权人的授权许可。