扫描探针显微镜立式探头专利登记公告

专利名称：扫描探针显微镜立式探头

摘要： 本实用新型是一种扫描探针显微镜ＳＰＭ的立式探头，它使用一只旋柄４，通过滑动机构５同时调节支撑探头上部Ｉ的两个支点运动；再用旋柄６带动螺纹副７调节另一支点，同时配以压电器件３的电反馈伸缩，完成ＳＰＭ测试调节任务，克服了原有调节装置，在对样品测试调节时的复杂和费时，达到了方便省时调节的目的。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN94217067.9

专利申请（专利权）人：中国科学院化学研究所

专利发明（设计）人：白春礼; 戴长春; 黄桂珍; 陈增波; 王培森; 商广义

主权项： 一种扫描探针显微镜立式探头，其部件有装有探针（１）的探头上部Ⅰ，装有样品（２）和压电器件（３）的探头下部Ⅱ，以及固定在探头下部Ⅱ上的调节机构，其特征在于所述的调节机构中，探头旋柄（４）与连接的螺纹副上装有一个滑动机构（５），旋柄（６）连接螺纹副机构（７），探针（１）的下方为压电器件（３）。

专利地区：北京