一种用于新型超高真空系统传样装置的样品接收台专利登记公告

专利名称：一种用于新型超高真空系统传样装置的样品接收台

摘要：本实用新型公开了一种用于新型超高真空系统传样装置的样品接收台，包括：导电接头、卡紧装置和接收台主体，所述接收台主体为一与样品托外形相配的两端开口的盒体，通过所述卡紧装置与所述接收台主体夹紧，所述导电接头安装在该接收台主体内，并可插入样品托的钼螺钉中心开的孔内。本实用新型与新型超高真空系统传样装置的样品托配合使用，其整体结构更加简洁有效，加工制作和使用操作变得更为容易，兼容性更好，因此可应用于超高真空扫描隧道显微镜系统、分子束外延系统、极端条件电输运测试系统等多种系统。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN200520112523.1

专利申请（专利权）人：中国科学院物理研究所

专利发明（设计）人：王 健;蔡伟伟;梁学锦;刘 慧;陈东敏;薛其坤

主权项：1、一种用于新型超高真空系统传样装置的样品接收台，其特征在于，包括：导电接头、卡紧装置和接收台主体，所述接收台主体为一与样品托外形相配的两端开口的盒体，该样品托通过所述卡紧装置与所述接收台主体夹紧，所述导电接头安装在该接收台主体内，并可插入样品托的钼螺钉中心开的孔内。

专利地区：北京