易开盖检验系统专利登记公告

专利名称：易开盖检验系统

摘要：本实用新型涉及一种对双面都进行检验的易开盖检验系统的结构改良。包括机架，设置在机架上的盖体传输机构，在盖体传输机构沿线设有两个盖面检验装置，其特征是在所述的机架设为两层，在上机架和下机架上分别设有上传输机构和下传输机构，上机架和下机架的连接处设有一个盖体翻转装置，所述的两个盖面检验装置分别设置在上机架和下机架上。因此，具有如下优点：设计合理，结构简单，采用具有磁性的传送机构实现盖体的传输和翻转，有效保护盖体，防止对盖体造成损伤；对盖体的翻转采用带有磁性的盖体翻转装置利用磁力对盖体进行翻转，从而避免了盖体翻转时造成损伤的问题；占地面积小，操作简便，工作效率高，磨损少，工作噪音小。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN200620102029.1

专利申请（专利权）人：骆立波

专利发明（设计）人：骆立波

主权项：1.一种易开盖检验系统，包括机架(5)，设置在机架(5)上的盖体传输机构，在盖体传输机构沿线设有两个盖面检验装置(2)，其特征是在所述的机架(5)设为两层，在上机架(51)和下机架(52)上分别设有上传输机构(31)和下传输机构(32)，上机架(51)和下机架(52)的连接处设有一个盖体翻转装置(7)，所述的两个盖面检验装置(2)分别设置在上机架(51)和下机架(52)上。

专利地区：浙江